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名称 機関 メーカー 共用範囲
JEM-1000EES
1MV物質・生命科学超高圧電子顕微鏡 (1MV Materials- and Bio-Science UHVEM)
大阪大学
日本電子(株)(JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡 (200kV atomic-resolution analytical TEM/STEM)
大阪大学
日本電子(株)(JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
Titan Krios
300kVクライオ電子顕微鏡 (300kV Cryo-EM)
大阪大学
サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
Scios2
複合ビーム3次元加工・観察装置 (FIB-SEM)
大阪大学
サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
HF-2000
電界放出型200kV高分解能電子顕微鏡 (200kV high-resolution FEG-TEM)
大阪大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
H-800
200kV回折コントラスト電子顕微鏡 (200kV diffraction-contrast TEM)
大阪大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
H-7500
125kVバイオ観察電顕 (125kV Biological TEM)
大阪大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
AFM5000/AFM5300E
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
大阪大学
株式会社日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science Corporation)
学内学外とも共用
UC7
高分子・生物系電子顕微鏡用試料作製装置群 (Bio-Science TEM Sample Preparation Machines)
大阪大学
ライカマイクロシステムズ (Leica MICROSYSTEMS)
学内学外とも共用
PIPS II
材料系電子顕微鏡用試料作製装置群 (Material-Science TEM Sample Preparation Machines)
大阪大学
アメテック株式会社 (AMETEK)
学内学外とも共用
ORION NanoFab
高精細集束イオンビーム装置 (High definition focused ion beam system)
大阪大学
カールツァイス (Carl Zeiss)
学内学外とも共用
Nvision 40D with NPVE
SEM付集束イオンビーム装置 (Focused ion beam system with SEM)
大阪大学
カールツァイス (Carl Zeiss)
学内学外とも共用
JSM-7100F
EBSD解析装置 (EBSD analyzer)
広島大学
日本電子 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-IT800
走査電子顕微鏡
広島大学
日本電子
学内学外とも共用
SPI3800
原子間力顕微鏡 (AFM)
広島大学
セイコーインスツルメンツ (Seiko Instruments Inc.)
学内学外とも共用
NH-3N
レーザー式非接触三次元形状測定器
香川大学
三鷹光器
学内学外とも共用
KH-7700
デジタルマイクロスコープ (Digital microscope)
香川大学
ハイロックス (Hirox)
学内学外とも共用
VK-X3100
白色干渉搭載レーザ顕微鏡 (White light interference type Laser Microscope)
香川大学
キーエンス
学内学外とも共用
JSM-IT800SHL, JCM-7000, JFC-3000FC Femto
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡群 (Field emission scanning electron microscope)
香川大学
日本電子
学内学外とも共用
SU9000, VE-9800
走査電子顕微鏡装置群 (Scanning electron microscope system)
九州大学
日立ハイテクノロジーズ キーエンス ?(Hitachi High-Tech KEYENCE)
学内学外とも共用
JEM-1300NEF
電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscop
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200CF
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope)
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100HCKM
ハイコントラスト補助電子顕微鏡 (Conventional high contrast electron microscope)
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
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〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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