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名称 機関 メーカー 共用範囲
DLS-8000HAL
動的光散乱光度計 (Dynamic light scattering (DLS) spectrophotometer)
物質・材料研究機構
大塚電子 (Otsuka Electronics)
学内学外とも共用
SALD-2100
粒度分布測定装置 (Particle size analyzer)
物質・材料研究機構
島津製作所 (Shimadzu)
学内学外とも共用
VCA Optima-XE
接触角計 (Contact angle meter)
物質・材料研究機構
AST Products (AST Products)
学内学外とも共用
TA-XT2i
テクスチャーアナライザー (Texture analyzer)
物質・材料研究機構
英弘精機 (EKO Instruments)
学内学外とも共用
F54-XY-200-UV
顕微分光膜厚計 [F54-XY-200-UV]
物質・材料研究機構
フィルメトリクス株式会社 (FILMETRICS)
学内学外とも共用
Dektak XT-A
触針式プロファイラー [Dektak XT-A]
物質・材料研究機構
ブルカージャパン (Bruker)
学内学外とも共用
FLX-2000-A
薄膜応力測定装置 [FLX-2000-A]
物質・材料研究機構
東朋テクノロジー (Toho Technology)
学内学外とも共用
Dektak 6M
触針式プロファイラー [Dektak 6M]
物質・材料研究機構
ブルカージャパン
学内学外とも共用
Alpha-Step IQ
触針式段差計 (Contact Profiler)
産業技術総合研究所
KLA テンコール (KLA-Tencor)
学内学外とも共用
陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA) (Positron Probe MicroAnalyzer (PPMA))
産業技術総合研究所
産総研自主開発 (AIST Original)
学内学外とも共用
超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置 (SC-XAFS) (X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy with a Superconducting Fluorescence Detector (SC-XAFS))
産業技術総合研究所
産総研自主開発 (AIST Original)
学内学外とも共用
可視-近赤外過渡吸収分光装置 (VITA) (Visible/Near-Infrared Transient Absorption Spectrometer (VITA))
産業技術総合研究所
産総研自主開発 (AIST Original)
学内学外とも共用
VHX-6000 DektakXT Tohospec3100 Suss8”プローバ M-550 LEXT OLS5000
形状・膜厚・電気特性評価装置群 (Series of analysis equipments, visual, thickness, and electrical/mechanical characteristic.)
東京大学
キーエンス ブルカー 東朋テクノロジー ズースマイクロテック 日本分光 オリンパス (Keyence BRUKER Toho Technology SUSS MicroTec JASCO Olympus)
学内学外とも共用
MSA-500
機械特性評価装置 (MSA-500 Micro System Analyzer)
東京大学
ポリテック (Polyltec)
学内学外とも共用
P-7
触針式段差計 (Contact surface profiler)
東京工業大学
KLA テンコール (KLA Tencor)
学内学外とも共用
GDA750
グロー放電分光分析装置
早稲田大学
株式会社堀場製作所 (HORIBA, Ltd.)
学内学外とも共用
プロファイラーP-15
触針式段差計 (Stylus Profiler)
早稲田大学
ケーエルエー・テンコール株式会社 (KLA Corporation. )
学内学外とも共用
TI-950
ナノインデンター (Nanoindenter)
信州大学
ハイジトロン (Hysitron)
学内学外とも共用
ET200A
段差計 (Surface profiler)
名古屋大学
小坂研究所
学内学外とも共用
Zetasizer Nano ZS
動的光散 (DLS) (Dynamic Light Scattering Analyzer (DLS))
名古屋大学
Malvern社 (Malvern)
学内学外とも共用
ELSZ-2
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システ (ゼータ電位、粒径・粒度分布) (Particle Size & Zeta-potential Analyzer)
名古屋大学
大塚電 (株) (Otsuka Electronics)
学内学外とも共用
SURFCOM 1400G(高倍率)
表面粗さ計
名古屋工業大学
産学官金連携機構
東京精密
学内のみ
Dektak150
触針式膜厚計
名古屋工業大学
産学官金連携機構
ULVAC
学内のみ
DMS6100
粘弾性測定装置(DMA)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
SIIナノテクノロジー
学内学外とも共用
MCR-302
応力制御式レオメーター
名古屋工業大学
産学官金連携機構
Anton Paar AG
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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