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名称 機関 メーカー 共用範囲
L-trace
走査型プローブ顕微鏡 [L-trace]
物質・材料研究機構
日立ハイテクサイエンス
学内学外とも共用
Nanoscope5
走査型プローブ顕微鏡 [Nanoscope5]
物質・材料研究機構
ブルカージャパン
学内学外とも共用
NX5000
TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置 (FIB-SEM combined apparatus for automatic preparation of TEM specimens)
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Model 1040 Nanomill
無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置 (Damage-less TEM specimen milling apparatus)
物質・材料研究機構
フィッシオーネ (Fischione)
学内学外とも共用
695PIPS II 他
セラミックス試料作製装置群 (Ceramics sample preparation facilities)
物質・材料研究機構
ガタン 日立ハイテク 真空デバイス マルトー TECHNOORG-LINDA
学内学外とも共用
NB5000
デュアルビーム加工観察装置 (Dual Beam system)
物質・材料研究機構
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies)
学内学外とも共用
JIB-4000
FIB加工装置群 (Focused Ion Beam systems)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-9320FIB
FIB加工装置群 (Focused Ion Beam systems)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-9310FIB
FIB加工装置群 (Focused Ion Beam systems)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
ピックアップシステム (Pick-up System)
物質・材料研究機構
-
学内学外とも共用
Leica EM UC6
ウルトラミクロトーム (Ultramicrotome)
物質・材料研究機構
ライカマイクロシステムズ (Leica Microsystems)
学内学外とも共用
Dimple Grinder(Model 656) PIPS II 他
TEM試料作製装置群 (TEM sample preparation apparatus)
物質・材料研究機構
Gatan 日本電子 BEUHLER Allied 日本レーザー電子真空デバイス マルトー
学内学外とも共用
E-1045
イオンスパッタ [E-1045]
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
U-2900
分光光度計 (Spectrophotometer)
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
IRTracer-100
フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)
物質・材料研究機構
島津製作所 (Shimadzu)
学内学外とも共用
inVia Reflex
ラマン顕微鏡 (Raman microscope)
物質・材料研究機構
レニショー (Renishaw)
学内学外とも共用
F-7000
分光蛍光光度計 (Fluorescence spectrophotometer)
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
J-725
円二色性分散計 (Circular dichroism (CD))
物質・材料研究機構
日本分光 (JASCO)
学内学外とも共用
MARY-102FM
エリプソメーター [MARY-102FM]
物質・材料研究機構
ファイブラボ (five Lab)
学内学外とも共用
M2000
分光エリプソメーター [M2000]
物質・材料研究機構
ジェー・エー・ウーラム・ジャパン
学内学外とも共用
JAMP-9500F
走査型オージェ電子分光分析装置 (Scanning Auger Electron Microprobe (CHA Type AES))
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Quantes
走査型デュアルX線光電子分光分析装置 (HAX-PES/XPS) (Dual Scanning X-ray Photoelectron Microprobe Equipped with Hard X-Ray (HAX-PES/XPS))
物質・材料研究機構
アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
学内学外とも共用
PHI TRIFT V nanoTOF
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS))
物質・材料研究機構
アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
学内学外とも共用
JXA-8500F
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置 (Field Emission Electron Probe Micro-Analyzer (FE-EPMA))
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
ECS-400
NMR (NMR)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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