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名称 機関 メーカー 共用範囲
SU9000, VE-9800
走査電子顕微鏡装置群 (Scanning electron microscope system)
九州大学
日立ハイテクノロジーズ キーエンス ?(Hitachi High-Tech KEYENCE)
学内学外とも共用
JEM-1300NEF
電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscop
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200CF
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope)
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100HCKM
ハイコントラスト補助電子顕微鏡 (Conventional high contrast electron microscope)
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Titan G2 60-300
三次元原子分解能透過電子顕微鏡 (3D analyltical STEM/TEM)
九州大学
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック?(Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
JEM-ARM300F2
低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM)
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2010, ASM-6200
透過型電子顕微鏡装置群 (Transmission Electron Microscope)
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
PicoPlus 5500, SPM9600, nanoscopeIIIa, SPI3800N
走査型プローブ顕微鏡装置群 (Scanning Probe Microscope)
九州大学
アジレントテクノロジー島津製作所Veecoエスアイアイ・ナノテクノロジー?(Agilent Technologies ShimazuVeecoSeiko Instruments)
学内学外とも共用
FEI Quanta 200 3D
デュアルビームFIB-SEM加工装置 (Dual beam FIB-SEM)
九州大学
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック?(Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
MI4000L
直交型FIB-SEM (3D analytical FIB-SEM)
九州大学
日立ハイテクノロジーズ?(Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
Scios DualBeam
三次元走査電子顕微鏡 (3D analyltical FIB-SEM)
九州大学
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック?(Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
Versa3D DualBeam
デュアルビーム微細加工電子顕微鏡?(Dual beam FIB-SEM)
九州大学
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
Helios 5 Hydra DualBeam
キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機 (Analytical plasma FIB-SEM)
九州大学
サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック?(Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
Gatan PIPS M 695、Fischione TEM-MILL M-1050、etc.
Arイオン研磨装置群 (Sample milling / polishing facilities)
九州大学
Gatan、Fischione、日本電子 (Gatan、Fischione、JEOL)
学内学外とも共用
JEOL JFC-1600、JEOL EC-32010CC
コーティング装置群 (Coating machine for nonconductive specimens)
九州大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Zeiss-ULTRA55 + SII-TES
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)
九州大学
日立ハイテクサイエンス、カールツァイス?(Hitachi High-Tech Science)
学内学外とも共用
SolidSpec-3700DUVV-670SpotLight400
紫外可視近赤外分光測定装置装置群 (UV-Vis-NIR spectrometer)
九州大学
島津製作所日本分光パーキンエルマー?(ShimazuJASCOPerkinElmer)
学内学外とも共用
Raman-touchNRS-3100KKRAMAN RXN Systems
レーザラマン分光光度計装置群 (Laser Raman Microscope system)
九州大学
ナノフォトン日本分光カイザーオプティカルシステムズ (Nanophoton JASCOKaiser Optical Systems)
学内学外とも共用
堀場JOBIN YVON?(Horiba JOBIN YVON)
近赤外蛍光分光装置群 (Fluorolog-NIR spectrofluorometer)
九州大学
堀場JOBIN YVON?(Horiba JOBIN YVON)
学内学外とも共用
AXIS-ULTRA
電子状態測定システム (X-ray photoelectron spectrometer)
九州大学
島津製作所?( Shimazu )
学内学外とも共用
AVANCE NEO 400
核磁気共鳴吸収装置 (NMR)
九州大学
BRUKER
学内学外とも共用
Autoflex max
MALDI-TOF MS質量分析装置 (Matrix-assisted laser desorption/ionization Time-of-Flight mass spectrometry)
九州大学
BRUKER
学内学外とも共用
SmartLab MicroMax-007HF NANO-Viewer KMYC
X線回折装置群 (X-ray diffraction system)
九州大学
リガク (Rigaku)
学内学外とも共用
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〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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