| 設置機関 | 東北大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F |
| 設備名称 | 超高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope) |
| 装置スペック | ・加速電圧 00 V/80 V ・球面収差補正装 (照射系、結像系) ・EDS分 (検出器=100 m2) ・EELS分光器 ネルギー分解能 .35 V ・高傾斜一軸ホルダー |
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